FluorTron?多功能高光譜成像技術揭秘殘留煙嘧磺隆對大豆的漸進式脅迫
中國農(nóng)業(yè)科學院植物保護研究所植物病蟲害生物學國家重點實驗室近期在《New Plant Protection》,發(fā)表了題為 《Hyperspectral signatures reveal hidden stress in soybean caused by residual nicosulfuron》的研究,利用 FluorTron?多功能高光譜成像技術,實現(xiàn)了對大豆在不同濃度煙嘧磺隆脅迫下的早期高靈敏度檢測。北京易科泰生態(tài)技術公司為本研究提供多模態(tài)表型分析技術方案(FluorTron?多功能高光譜成像系統(tǒng)+葉綠素熒光成像系統(tǒng))并在 EcoTech?實驗室完成實驗檢測分析。